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斩波放大器是一种零漂移运算放大器，因具有超低的失调电压而闻名，这归功于其内部拓扑结构，无论配置如何，都能在很大程度上减小放大器的失调电压。因而具有非常低的失调电压误差（失调电压、漂移、共模抑制比[CMRR]、电源抑制比 [PSRR] 和开环电压增益[Aol]），如图1所示。此拓扑的另一个好处是，由于放大器将低频噪声感知为直流误差（并因而尽量减少噪声），因此它具有平坦的1/f或闪烁噪声。斩波放大器是直流到几万赫兹的频率下要求高精度的应用（例如，精密温度监测、惠斯通电桥测量和电压基准缓冲）的理想选择。
图形和规格差异表明，与连续时间放大器相比，由于架构的原因，斩波放大器具有低失调电压误差和平坦的1/f噪声曲线。
图1：斩波放大器具有低失调电压误差和平坦的1/f噪声曲线
接下来，我们再回到精密信号链面临的难题。
难题1：更大限度减小整个温度范围内的失调电压误差
设计精密信号链时遇到的其中一大难题是更大限度减小ADC驱动器和基准缓冲器产生的失调电压误差。虽然在生产期间执行校准可以改善失调电压、CMRR、PSRR和Aol性能，但失调电压温漂的校准很困难而且成本昂贵，需要在生产期间更改系统温度或增加校准环路，从而会增大系统尺寸和物料清单计数。得益于斩波放大器固有的低温漂性能，使用斩波放大器有助于解决此问题，不再需要校准温漂。
但是，下一代斩波放大器有一个新的问题，使这些器件无法实现更好的温漂。此问题称为塞贝克效应，它是热电偶效应的一部分。塞贝克效应是指在温度梯度间产生电势，该电势在自热放大器运行期间以及环境温度下自然产生。对于在信号路径（从引脚到放大器核心）中使用异种金属的器件，此梯度会增加。
认识到这一局限性并使用不同材料进行广泛的实验之后，德州仪器确定了一种材料组合，能够在-40℃至+125℃的整个温度范围内生产OPA2182时，仅产生12nV/°C的温漂。图2对比了OPA2182与非斩波放大器OPA2140的温漂。