高岭石成分检测_高岭土物相检测-高岭石扫描电镜测试。华谨第三方矿石检测中心，专门承接各类矿石矿物检测，检测周期短，费用优惠，欢迎来电咨询。
高岭石检测什么单位可以办理？检测项目及标准有哪些？费用是多少？华谨检测实验室可根据GB/T 14563-2020高岭土及其试验方法等相关标准制定试验方案。对高岭石检测的筛余量、分散沉降物、PH、粘度等项目进行检测分析。并出具严谨公正的CMA，CNAS资质检测报告。
高岭石(kaolinite)亦称“高岭土”、“瓷土”。一种黏土矿物。因在江西景德镇附近的高岭村发现而得名。由长石、普通辉石等铝硅酸盐类矿物在风化过程中形成。呈土状或块状，硬度小，湿润时具有可塑性、黏着性和体积膨胀性，特别是微晶高岭石(亦称“蒙脱石”、“胶岭石”)膨胀性较大(可达几倍到十几倍)。由微晶高岭石和拜来石为主要成分的称“斑脱土”。
高岭石检测项目：
成分分析，白度、粒径、筛余量、分散沉降物、PH、粘度、浓度、三氧化二铝含量、三氧化二铁检测、二氧化硅含量、烧失量、扫描电镜、差热分析、耐火度、放射性、X衍射分析，密度等。
高岭石检测适用范围：
胶岭石、微晶高岭石、蒙脱土、精细高岭土、日用陶瓷用高岭土、混凝土用偏高岭土、高岭土原矿、高岭石原矿等。
高岭石相关检测标准：
GB/T 14563-2020 高岭土及其试验方法
GB/T 14565-1993 高岭土化学分析方法
GB/T 14564-1993 高岭土物理性能试验方法
GB 31628-2014 食品安全国家标准 食品添加剂 高岭土
GB/T 14563-1993 高岭土
JC/T 2370-2016 精细高岭土
QB/T 1635-2017 日用陶瓷用高岭土
JC/T 2573-2020 高岭土中游离石英含量的测定方法
DB53/T 843-2017 混凝土用偏高岭土
KS E 3805-1977 高岭石
STAS 9163/21-1974 矿产品.高岭石含量的测定
高岭石扫描电镜测试：
SEM 电镜 / EDS 能谱分析介绍：
扫描电子显微镜(SEM)是用细聚焦的高能电子束轰击试样表面，通过电子与试样相互作用产生的二次电子、背散射电子信息对试样表面或断口进行微区形貌及结构的观察。现在的SEM一般都与EDS组合，利用EDS进行元素成分定性、定量分析；可应用于材料高分辨成像、电子产品如PCB板/FPC、半导体，光电材料、通讯行业材料形貌/腐蚀/微污染分析，微区元素打点分析/特定元素沿深度方向的线扫描，元素的面分布。
扫描电子显微镜的原理是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、X光信号、背散射电子、透射电子， 以及在可见、 紫外、红外光区域产生的电磁辐射。根据信号强度组成形貌照片，能高倍率观察表面外观形貌。原则上讲，利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息。
能谱仪的工作原理：探头接受特征X射线信号→把特征X射线光信号转变成具有不同高度的电脉冲信号→放大器放大信号→多道脉冲分析器把代表不同能量(波长)X射线的脉冲信号按高度编入不同频道→在荧光屏上显示谱线→利用计算机进行定性和定量计算。能谱仪通常作为扫描电子显微镜的附属配件，搭配扫描电子显微镜使用。
通过扫描电子显微镜和搭配使用的能谱仪，可以用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观测并拍摄局部异常照片和测量异常尺寸、测量芯片关键尺寸线宽和孔径、定性和定量分析异常污染物的化学元素组成。
SEM/EDS分析手段：
主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究，仪器的功能包括：
（1）电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射；
（2）成像：明场像（BF）、暗场像（DF）、衍射像、高分辨像(HREM)、扫描透射像，环角暗场像（HAADF）；
（3）微区成分：EDS能谱的点、线和面分析；
SEM/EDS应用范围：
（1）材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于**和生物材料。
（2）表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。